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布魯克的SEM PICOINDENTER系列Hysitron PI 85L是深度感應的納米力學測試系統(tǒng)，專門設計用于與掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的**成像能力聯(lián)用。有了這些系統(tǒng)，可以進行定量納米力學測試，同時使用SEM進行成像。SEM PICOINDENTER系列Hysitron PI 85L是一款專用的原位納米力學測試儀器，專為 SEM 使用而設計，但也適用于各種平臺和環(huán)境。該儀器采用布魯克電容式傳感器與極快的 78 kHz 控制系統(tǒng)配合使用，在納米尺度下提供**的性能和穩(wěn)定性。緊湊的小尺寸設計使該系統(tǒng)非常適合腔體、拉曼和光學顯微鏡、同步輻射光束線等。
專為高性能和多功能性而設計
SEM PICOINDENTER系列Hysitron PI 85L的樣品臺設計能容納厚度達 10 mm 的樣品，同時提供三個方向 （XYZ） 3 mm 范圍的**樣品定位。此外，樣品和傳感器的機械耦合為納米力學測試提供了一個穩(wěn)定、剛性的平臺?？傊@種設計可實現(xiàn)*大的傾斜度和*小工作距離，在測試期間實現(xiàn)*佳成像效果。
與 SEM 成像同步的原位力學數(shù)據(jù)
使用SEM PICOINDENTER系列Hysitron PI 85L采集的原位力學數(shù)據(jù)與 SEM 成像同步，且并排顯示。在左側(cè)的示例中，負載位移數(shù)據(jù)中的不連續(xù)性與在包含銅互連和脆電介質(zhì)材料中觀察到的斷裂相關。同時進行機械測量和SEM成像可**了解材料變形行為。
**使用各種模式探索材料變形行為
SEM PICOINDENTER系列Hysitron PI 85L可采用多種不同模式，在各種不同樣品中測試基本力學性能、應力應變行為、剛度、斷裂韌性和變形機制。
除了標準的測試模式外，SEM PICOINDENTER系列Hysitron PI 85L還可以升級，并可使用可選模式進一步擴展其功能。從加熱選項到電特性，SEM PICOINDENTER系列Hysitron PI 85L可根據(jù)您的需求進行調(diào)整。
